第25回高分子表面研究会講座 一歩進んだ解析へのヒント
趣旨	高分子表面研究会が、まさに高分子の表面・界面・局所に特化した表面分析講座を企画しました。高分子、有機薄膜などの開発、表面分析・解析に従事している研究者の方々、測定原理程度は分かっているが更に一歩進んだ分析・解析技術の知見を得たいと考えている方々を対象としたプログラムです。研究開発の現場で活躍されている方を講師にお迎えし、「使える技術」、「使ってみたい技術」についてご紹介頂きます。出席された方々と講師の間で活発な質問・議論が可能な、出席した成果を手取れる講座にしたいと思いますので是非ご参加下さい。
主催	高分子表面研究会
協賛	日本化学会他
開催日	2007年06月21日〜2007年06月22日
開催場所	東京工業大学百年記念館フェライト会議室 目黒区大岡山2-12-1 Tel：03-5734-3331
交通	東急目黒線･東急大井町線　大岡山駅　下車徒歩約1分
プログラム	第1日＝6月21日(木) ＜10：30〜10：35＞　開会挨拶 ＜10：35〜11：30＞ 1.高分子表面分析技術−概論と今後の展望− （東レリサーチセンター）中山陽一 ＜11：35〜12：20＞ 2. X線光電子分光を用いた薄膜材料解析の最新技術と応用 （富士フイルム）前川敏彦 ＜13：20〜14：05＞ 3. TOF-SIMSによる高分子材料の表面及び深さ方向分析 （豊田中央研究所）村瀬　篤 ＜14：10〜14：40＞ 4．凍結ToF-SIMS法・XPS法による湿潤状態での高分子の表面官能基分析 （旭化成）菊間　淳 ＜14：50〜15：35＞ 5．ＳＰＭによる高分子材料表面のモルフォロジー評価と摩擦、粘弾性応答を利用した評価法について （エスアイアイ・ナノテクノロジー）　岩佐真行 ＜15：40〜16：25＞　 6．高分子機能界面の複合解析から界面形成の動的解析へ （大日本印刷）黒田孝二 第2日＝6月22日(金) ＜10：30〜11：15＞　 7．電子顕微鏡による高分子材料のキャラクタリゼーション （三菱化学科学技術研究センター）佐野博成 ＜11：20〜12：05＞　 8．CP法、FIB法、斜め切削法を用いた最新のサンプリング技術 （日東分析センター）山崎秀樹 ＜13：15〜14：15＞　 9．放射光を用いた高分子表面解析の現状 （高輝度光科学研究センター）堀江一之 ＜14：20〜15：05＞　 10．顕微からマクロまで、FT-IRイメージング法による高分子材料解析 （日東電工）河辺雅義 ＜15：20〜16：05＞　 11．ラマン分光法による高分子の高次構造解析と表面分析への応用 （東レリサーチセンター）村木直樹　 ＜16：05〜16：10＞　閉会挨拶
受付期間	2007年04月03日〜2007年06月19日
参加要領	[申込] (1)「行事参加・発表申込」（web）にてお申込ください。 　 (申込内容はe-mailにて届けられる受理通知にてご確認ください。） (2)申込受付後、事務局より参加証と請求書（希望者のみ）が届きます。 (3)参加費を下記いずれかの振込先に6月末日迄にご送金ください。 [参加費] (1)企業27,300円　(2)大学・官公庁9,450円　(3)学生・ｺﾞｰﾙﾄﾞ・ｼﾙﾊﾞｰ 3,150円 (4)高分子表面研究会メンバー：企業 22,050円、 大学・官公庁 7,350円 [振込先] (1)銀行 　　三菱東京UFJ銀行銀座支店　普通預金　1126232　（社）高分子学会 　 (2)郵便局 　　00110-6-111688（社）高分子学会 [その他] ・振込み手数料は振込人にてご負担ください。 ・銀行・郵便局の領収書をもって本会からの領収書にかえさせていただきます。 [問合せ先]　 （社）高分子学会　第25回高分子表面研究会講座係 　〒104-0042　東京都中央区入船3-10-9　新富町ビル6F　 　　電話03−5540−3770 FAX03−5540−3737 ※Webでのお申し込みは6月20日(水)午前までとさせていただきます。 以降は上記宛お問い合わせ下さい。