08-1有機EL研究会
種々の電気物性評価法による有機EL素子の解析：
測定法の基礎から最新の素子研究まで
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| 趣旨 |
最近の有機ELテレビの登場や、携帯電話のメインディスプレイとしての利用、照明用途への展開など、有機EL素子をめぐる開発・研究がますます盛んになってきました。実用化をふまえて高効率・高寿命の素子開発をすすめるには、素子の電気物性を多面的にかつ詳細に評価し、その結果をフィードバックして素子を改良していくことが不可欠です。そのような電気物性測定としては、電圧―電流－輝度測定による電気測定が一般に行われていますが、最近ではインピーダンス測定、トラップ分光、過渡応答測定などの種々の電気物性測定法が有機EL解析に適用されています。本研究会では、各手法に精通した研究者を講師に招き、測定法の原理・測定例を解説いただくと共に、最新の研究成果に関しても紹介いただき、有機ELの電気物性評価法に関して議論を深めて頂けるように企画しました。 |
| 主催 |
高分子学会 有機EL研究会 |
| 開催日 |
2008年10月17日 10:00～16:30 |
| 開催場所 |
東京大学 本郷キャンパス 小柴ホール
文京区本郷7-3-1 東京大学理学部1号館
http://www.phys.s.u-tokyo.ac.jp/access/
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| 交通 |
東京メトロ 丸の内線、大江戸線 本郷三丁目駅 徒歩 約8分、千代田線 湯島駅又は根津駅 徒歩 約8分、南北線 東大前駅 徒歩 約1分
（※東大正門、赤門、龍岡門から小柴ホールまで、徒歩で数分かかりますので、お時間に余裕をもってご来場ください。）
http://www.u-tokyo.ac.jp/campusmap/map01_02_j.html |
| プログラム |
<10:00－10:40>
1）有機EL素子の電圧－電流解析法の基礎と素子評価 （北陸先端大）村田 英幸
<10:40－11:20>
2）インピーダンス分光法による有機EL素子のキャリアダイナミクス解析
（出光興産）熊 均
<11:20－12:00>
3）変位電流測定法による有機EL素子評価 （千葉大）石井 久夫
<13:30－14:10>
4）有機EL素子のトラップ分光の基礎とデバイス評価 （中部大）中野 由崇
<14:10－14:50>
5）過渡応答測定による有機EL素子の解析 （産総研）高田 徳幸
<15:10－15:50>
6）TOF測定による有機EL材料のキャリア輸送特性評価 （東芝）西沢 秀之
<15:50－16:30>
7）内部光電子分光法による電極-有機半導体界面の電子注入障壁の評価
（信州大）伊東 栄次 |
| 受付期間 |
2008年07月11日～2008年10月17日 |
| 参加要領 |
1）定員150名（定員になり次第、締め切らせていただきます。）
2）参加費 ①企業 5,250円
②大学・官公庁 3,150円
③学生 2,100
④名誉・終身・フェロー・ゴールド・シルバー会員 2,100円
⑤有機EL研究会メンバー 無料
3）申込方法 当サイトからお申し込みの上、参加費を10月末日までにご送金下さい。
参加証、請求書（希望者のみ）を順次送付させていただきます。
4）振込先 銀行振込＜三菱東京UFJ銀行 銀座支店 (普通)1126232 (社)高分子学会＞
郵便振込＜00110-6-111688 (社)高分子学会＞
振込手数料は振込人にてご負担下さいますようお願いいたします。
銀行・郵便振替の領収書をもって本会からの領収書にかえさせていただきます。
※Webでの受付は開催前日10月16日（木）午前までとさせていただきます。以降は下記宛てお問い合わせ下さい。
社団法人高分子学会 有機EL研究会係
〒104-0042 東京都中央区入船3-10-9 新富町ﾋﾞﾙ6F
TEL 03-5540-3771 FAX 03-5540-3737 |