09-2高分子表面研究会
高分子表面・界面の最新計測技術 |
趣旨 |
高分子表面・界面は、バルクの延長ではなく、表面・界面に特有の現象を発現します。従って、高分子表面・界面の特性を理解するためには、表面・界面に特化した計測技術が必須です。材料分野全般において、計測技術の進歩が優れた材料開発に役立っていることは周知の事実です。 今回の研究会では、表面・界面に適応し得る最新の計測技術を研究されている講師の方々をお招きし、計測技術の紹介と解析例についてご講演をいただきます。
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主催 |
高分子学会 高分子表面研究会 |
協賛 |
日本化学会、応用物理学会(予定)、色材協会、繊維学会、日本材料学会、日本接着学会、日本表面科学会、日本分析化学会 |
開催日 |
2010年01月15日 10:10〜16:45 |
開催場所 |
東京理科大学森戸記念館第1フォーラム
東京都新宿区神楽坂4-2-2
Tel:03-3260-4271
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交通 |
JR総武線、地下鉄有楽町線・東西線・南北線 飯田橋駅下車 徒歩10分、都営地下鉄大江戸線 牛込神楽坂駅 徒歩10分 |
プログラム |
[10:10-10-15]開会の挨拶 (群馬大学大学院)西岡利勝 [10:15-11:05] 1.赤外分光法を中心とする高分子材料のデプスプロファイル(群馬大学大学院)西岡利勝 [11:05-11:55] 2.シリカ粒子表面のシランカップリング剤処理層のパルスNMRによる構造解析(大阪工業大学)中村吉伸 [13:00-13:50] 3.単一分子観察による高分子鎖の構造とダイナミクスの評価(京都大学)青木裕之 [13:50-14:40] 4.液体界面における高分子の凝集状態とダイナミクス(九州大学)田中敬二 [15:00-15:50] 5.原子間力顕微鏡を用いた高分子表面・単一高分子鎖の力学特性(東北大学)中嶋 健 [15:50-16:40] 6.電子顕微鏡による高分子界面と接着の解析(産業技術総合研究所)堀内 伸
[16:40-16:45]閉会の挨拶(三菱化学)中村友久
※プログラムは予告なく変更になる場合がございます。予めご了承下さい。
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受付期間 |
2009年11月24日〜2010年01月14日 |
参加要領 |
1) 定員 100名 2)参加費(税込) @企業5,250円 A大学・官公庁3,150円 B学生2,100円 C名誉会員・終身会員・フェロー・ゴールド会員・シルバー会員2,100円 D 高分子表面研究会メンバー無料
3)申込方法 本申込サイトからお申込いただき、参加費を1月末までにご送金ください。 申込受付後、参加証と請求書(希望者のみ)を順次送付いたします。
4)振込先 銀行振込<三菱東京UFJ銀行銀座支店 普通預金1126232(社)高分子学会> 郵便振替<00110-6-111688(社)高分子学会> 振込手数料は申込者にてご負担くださいますようお願いいたします。 銀行・郵便振替の領収書をもって本会からの領収書とさせていただきます。
申込先 高分子学会 09-2高分子表面研究会係 〒104-0042 東京都中央区入船3-10-9 新富町ビル6F 電話03−5540−3771 Fax03−5540−3737
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