第32回無機高分子シンポジウム 分析・解析技術の最前線
趣旨	有機−無機ハイブリッド材料のように有機材料と無機材料が複合化した材料ではその表面・界面を含めた高次構造が材料の特性や物性に大きな影響を与えます。これらの情報を簡便に，そして正確に捉えて正しく評価することができれば，より高性能な材料を短期間で開発することに役立ちます。そこで，本シンポジウムでは微粒子も含めた表面や界面などの高次構造や細孔分析の最前線を特集しました。従来よりも身近になりつつある高エネルギー線による分析や高解像度のSTMなどの利用法とその特徴をわかりやすく解説し，また，最先端の研究成果を紹介していただくべく，産業界・学界の第一線でご活躍の研究者にご講演をお願いしました。また，意見交換の場としてご利用いただけるようコーヒーブレイクの時間も余裕を持って設けました。皆様のご参加をお待ち申し上げております。
主催	高分子学会　無機高分子研究会
協賛	（予定）応用物理学会、ケイ素化学協会、ゼオライト学会、電気化学会、 日本化学会、日本セラミックス協会
開催日	2013年06月14日　10:30〜17:00
開催場所	東京理科大学　森戸記念館　第1フォーラム 東京都新宿区神楽坂4-2-2
交通	JR総武線、地下鉄有楽町線、東西線、南北線飯田橋駅下車　徒歩10分 都営地下鉄　牛込神楽坂駅　徒歩5分、地下鉄　神楽坂駅　徒歩5分
プログラム	＜10：30〜11：20＞ 1.「ナノ粒子測定の新たな挑戦−分散・凝集の評価」 （島津製作所）木下健 ＜11：20〜12：10＞ 2.「走査型プローブ顕微鏡による界面における分子挙動の評価」 （熊本大院）上村忍 ＜13：10〜14：00＞ 3.「小角X線散乱によるナノ構造解析」 （京都工繊大院）櫻井伸一 ＜14：00〜14：50＞ 4.「陽電子消滅法による機能性材料のサブナノ・ナノ空孔評価」 （産総研）伊藤賢志 ＜14：50〜15：20＞ コーヒーブレイク ＜15：20〜16：10＞ 5．「自動車に用いられる高分子材料の解析における量子ビーム利用」 （豊田中研）原田雅史 ＜16：10〜17：00＞ 6．「中性子散乱を用いる材料分析手法」 （高エネ研）瀬戸秀紀 ※プログラムは予告なく変更になる場合がございます。予めご了承下さい。
受付期間	2013年02月18日〜2013年06月13日
参加要領	1)定員　100名 　 2）参加費(税込)　 �@企業13,650円　 �A大学・官公庁5,250円　 �B学生2,100円　 �C名誉会員・終身会員・フェロー・ゴールド会員・シニア会員2,100円　 �D 無機高分子研究会メンバー　(a)企業10,500円　(b)大学・官公庁4,200円　 3）申込方法　本サイトよりお申込みの上、参加費を6月末までにご送金ください。申込受付後、参加証と請求書（希望者のみ）を順次送付いたします。 4）振込先　銀行振込＜三菱東京UFJ銀行 銀座支店 (普) 1126232 名義 シャ）コウブンシガツカイ＞ 郵便振替＜00110-6-111688　　名義 シャ）コウブンシガツカイ＞ 振込手数料は申込者にてご負担くださいますようお願いいたします。 銀行・郵便振替の領収書をもって本会からの領収書とさせていただきます。 申込先　　　高分子学会 第32回無機高分子シンポジウム係 〒104-0042　東京都中央区入船3-10-9　新富町ビル6F 電話03−5540−3771　 Fax03−5540−3737