09-2有機ＥＬ研究会 デバイス（作成、評価、電導機構、発光機構、界面現象を含む）
趣旨	有機ELにおける評価技術と作成プロセスに焦点をあてた。素子の劣化機構を解析する手法として、PL測定の利用と同位体の利用が期待される。有機材料の界面評価に有効である光電子分光法の諸例を紹介してもらう。マスクなどを利用しないデバイス作成法である自己整合技術、ポリフルオレンの薄膜状態と特性との関係、界面におけるSAM材料による特性改善を討論していきたい。
主催	高分子学会　有機EL研究会　共催：電気学会東海支部　研究フォーラム「機能性有機材料の先端技術」
開催日	2009年12月18日　13:00〜17:00
開催場所	名古屋大学　IB電子情報館中棟　015講義室 名古屋市千種区不老町 Tel：052-789-3643 Fax：052-789-3134
交通	名古屋市営地下鉄名城線名古屋大学駅３番出口すぐ横
プログラム	<13:00〜13:40> 1）蛍光ダメージ評価法の開発 （産総研）高田 徳幸 <13:40〜14:20> 2）自己整合インクジェットプリント法を用いた有機EL素子 （富山大理工）○中　 茂樹、岡田 裕之 <14:20〜15:00> 3）有機ELの劣化評価　ー同位体マーカ法を中心にー （東レリサーチセ）宮本 隆志 <15:00〜15:15>休憩 <15:15〜15:50> 4）有機EL関連薄膜・界面の光電子分光と光電子収量分光 （千葉大先進科学セ）石井 久夫 <15:50〜16:25> 5）フルオレン系高分子EL素子の薄膜層と発光特性 （阪大先端科学イノベーションセ）○梶井 博武、高田 亮太郎、小島 世誠、笠間 大輔、大森 　裕 ＜16:25〜17:00＞ 6）自己組織化単分子膜の形成と有機ELへの応用 （名大院工）森　 竜雄
受付期間	2009年10月26日〜2009年12月17日
参加要領	1)定員150名　 2)参加費　無料　 3)申込方法　高分子学会申込みサイト http://www.spsj.or.jp/entry/にて申込後、参加証を送付します。 4)その他：演題・講演者は予告なく変更になる場合がございます。予めご了承下さい。 申込先 (社)高分子学会　09-2有機EL研究会係係 〒104-0042　東京都中央区入船3-10-9　新富町ビル6F TEL　03-5540-3771　　FAX　03-5540-3737