ブックタイトル高分子 POLYMERS 62巻11月号

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概要

高分子 POLYMERS 62巻11月号

COVER STORY: Highlight Reviews展望図3STEMにおける光学セッティングの違いによるABS樹脂観察結果の変化.試料は膜厚1 mのABS樹脂.(a)BF-TEM,(b)DF-STEM像であり,光学系のセッティングは図2のF-SETとDF-SETと同じ.(c)取込角を3.5 mradとしたときのBF-STEM像.(a)(c)で焦点深度は1.6 mで共通とした.実線および点線の丸で囲んだ金粒子は,それぞれ,試料の表面および裏面に存在する.(a)および(b)では電子の多重散乱のために裏面の金粒子はぼけているが,(c)では金粒子の位置にかかわらず明瞭に観察できる.スケールバーは500 nmである.んだ“環境型電子顕微鏡”の開発が最近のホットな話題である。液体・気体中での動的ナノスケール観察を可能とする大気圧走査電子顕微鏡(Atmospheric ScanningElectron Microscope、ASEM)も開発された12)。将来的には、種々の環境下での三次元構造観察が可能となれば素晴らしい。謝本研究の一部は科研費No. 21241030の助成を受けたものです。本研究を進めるに当たり、樋口剛志博士(JSTERATO/九州大学先導物質化学研究所)、元木創平博士、金子武司博士(日本電子(株))、土屋敏彦氏((株)三井化学分析センター)にお世話になりました。ここに深く謝意を表します。辞べて試料に対する電子線の透過力に圧倒的に優れていることから、本来、厚い(~数mm)高分子試料の透過像撮影には適している。高エネルギー電子は物質との相互作用が弱いためコントラストは弱くなり、また、高分子試料に対するより大きなダメージも懸念されることから、HVEMの高分子試料に対する有用性についてはまだまだ未知の部分があることも確かである。しかし、HVEMがメゾスケールの三次元可視化装置として非常に魅力的であることは間違いない。メゾスケール三次元観察について、HVEMベースのET、前項で取り上げたSET、などが次々と登場しており、今後の装置開発の潮流となりそうである。また、材料開発においては、試料を実際に使用される“環境”で観察することが熱望されている。これまで超高真空下での観察が当たり前であった電子顕微鏡の世界に、試料変形・高温・ガス下など種々の環境をもち込文1)M. Kamigaito and K. Sato, Macromolecules, 41, 269(2008)2)岡本正巳,機能材料, 11, 27-35(2002)3)駒井泰美,“ゴム材料の配合技術とナノコンポジット”,こうじ谷信三,西敏夫,山口幸一,秋葉光雄(編),第8章,シーエムシー出版(2003)4)K. Akutagawa, K. Yamaguchi, A. Yamamoto, H. Heguri, H. Jinnai, andY. Shinbori, Rubber Chem. Technol., 81, 182(2008)5)陣内浩司,高分子, 56, 352(2007)6)H.JinnaiandR.J.Spontak,Polymer,50,1067(2009)7)H. Jinnai, T. Nishi, and R. J. Spontak, Macromolecules, 43, 1675(2010)8)N. Kawase, M. Kato, H. Nishioka, and H. Jinnai, Ultramicroscopy, 107,8(2007)9)K. Aoyama, T. Takagi, A. Hirase, and A. Miyazawa, Ultramicroscopy,109, 70(2008)10)J. Loos, E. Sourty, K. Lu, B. Freitag, D. Tang, and D. D. Wall, NanoLett., 9, 1704(2009)11)S. Motoki, T. Kaneko, Y. Aoyama, H. Nishioka, Y. Okura, Y. Kondo,and H. Jinnai, J. Electron Microsc., 59(S1), S45(2010)12)M. Suga, H. Nishiyama, Y. Konyuba, S. Iwamatsu, Y. Watanabe, C.Yoshiura, T. Ueda, and C. Sato, Ultramicroscopy, 111, 1650(2011)献668 c2013 The Society of Polymer Science, Japan高分子62巻11月号(2013年)