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日 程 ： |
平成21年7月2日（木）～7月3月（金） 10:30～16:35 |
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会 場 ： |
東京理科大学 森戸記念館 第一フォーラム |
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主 題 ： |
高分子表面・界面の詳細な把握のために ～変化の追跡～ |
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日 程 ： |
平成21年10月30日（金）10：00～16：45 |
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会 場 ： |
東京理科大学 森戸記念館 第一フォーラム |
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主 題 ： |
有機デバイスの界面・表面 |
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日 程 ： |
平成22年1月15日（金）10:10-16:45 |
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会 場 ： |
東京理科大学 森戸記念館 第一フォーラム |
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主 題 ： |
高分子表面・界面の最新計測技術 |
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